現(xiàn)在的高速數(shù)字系統(tǒng)的時(shí)鐘頻率可能高達(dá)數(shù)百兆Hz，其快斜率瞬變和極高的工作頻率， 以及很大的電路密集度，必將使得系統(tǒng)表現(xiàn)出與低速設(shè)計(jì)截然不同的行為，出現(xiàn)了信號(hào)完整 性問題。破壞了信號(hào)完整性將直接導(dǎo)致信號(hào)失真、定時(shí)錯(cuò)誤，以及產(chǎn)生不正確數(shù)據(jù)、地址和 控制信號(hào)，從而造成系統(tǒng)誤工作甚至導(dǎo)致系統(tǒng)崩潰。信號(hào)完整性問題已經(jīng)越來越引起高速數(shù)字電路設(shè)計(jì)人員的關(guān)注。 如果電路中信號(hào)能夠以要求的時(shí)序、持續(xù)時(shí)間和電壓幅度到達(dá) IC，則該電路具有較好的信號(hào)完整性。當(dāng)信號(hào)不能正常響應(yīng)時(shí)， 就出現(xiàn)了信號(hào)完整性問題。 SI（Signal Integrity ） 解決的是信號(hào)傳輸過程中的質(zhì)量問題，尤其是在高速領(lǐng)域，數(shù)字信號(hào)的傳輸不能只考慮邏輯上的實(shí)現(xiàn)，物理實(shí)現(xiàn)中數(shù)字器件開關(guān)行為的模擬效果往往成為設(shè)計(jì)成敗的關(guān)鍵。

北京淼森波信息技術(shù)有限公司主要提供高速電路測試服務(wù)和儀器儀表租售業(yè)務(wù)。

高速電路測試服務(wù)項(xiàng)目有：① SI信號(hào)完整性測試，主要內(nèi)容是電源上電時(shí)序、復(fù)位、時(shí)鐘、I2C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口測試、URAT測試、網(wǎng)口測試、USB2.0/USB3.0測試、MIPI測試、HDMI測試、及板卡上其它芯片接口的信號(hào)測試。② PI電源完整性測試，主要內(nèi)容是電源的電壓值（精度）、電源噪聲/紋波、電壓上下波形、測量緩啟動(dòng)電路參數(shù)、電源電流和沖擊電流、電源告警信號(hào)、冗余電源的均流參數(shù)。③ 接口一致性測試，主要有以太網(wǎng)、USB2.0、USB3.0、MIPI、HDMI、SATA、Display Port、PCIE。